Qsarpress

ما في ذلك السياسة والأعمال والتكنولوجيا والحياة والرأي والرياضة.

مستشعر تقادم المنتج BTI لفحص الموثوقية والكشف المبكر عن المواد المعرضة للخطر

مستشعر تقادم المنتج BTI لفحص الموثوقية والكشف المبكر عن المواد المعرضة للخطر

الاختبار والقياس والتحليل

أوراق بيضاء

نتائج اختبار مستوى الرقاقة لمعدلات تدهور ترانزستور PMOS تحت ضغط NBTI، باستخدام حزمة جديدة لمراقبة الموثوقية.

لقد قمنا بتطوير حزمة جديدة لمراقبة الموثوقية والتي سيتم اختبارها ضمن وحدة IP خاصة نطلق عليها اسم CV® Core، مع أجهزة استشعار قديمة مضمنة في تخطيط المنتج وواجهة الإدخال/الإخراج للمنتج. نوضح تطبيق حزمة المستشعر بمثال شاشة PMOS NBTI، والتي يمكن اختبارها على مستوى الرقاقة أثناء تسلسل الرقاقة الكهربائية للمنتج (EWS)، وكذلك أثناء الاختبار النهائي أو بعد التعبئة أثناء الاحتراق. أثناء EWS، يمكن استخدام اختبار الضغط على مستوى الرقاقة لتحديد شريحة الحافة، أو المساعدة في استبدال المواد المحروقة، أو لدعم توحيد إضافي لشريحة صغيرة مناسبة للوحدات متعددة الشرائح. يمكن استخدام مستشعرات التقادم طوال عمر الشريحة لمراقبة تآكل الجهاز وتنبيه المستخدمين بمعدلات تقادم السيليكون غير الطبيعية مقابل مواصفات المهمة المستهدفة. في هذا العمل، نعرض نتائج اختبار مستوى الرقاقة لمعدلات تدهور ترانزستور PMOS تحت ضغط NBTI، والتباين داخل الرقاقة، وارتباط معدلات التدهور بين أجهزة الاستشعار المجهدة في ظل ظروف مختلفة.

انقر فوق هنا اقرأ أكثر.

READ  GTA 5 Online موقع الغراب: تحدي تصوير الحيوانات